逢甲共同貴重儀器中心

開課清單 course list

課程類型	課程名稱	課程時間	報名人數	報名

儀器設備 instrument

理學大樓理112室

X光光電子能譜儀 (XPS)

X-ray Photoelectron Spectroscopy

理113

多功能微區X光薄膜繞射儀(D8-XRD)

Multipurpose X-Ray Thin-Film Micro Area Diffractometer

理111

桌上型X光繞射儀(D2-XRD)

X-ray Diffraction

理114

冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (FE-SEM)

Cold Field Emission Scanning Electron Microscope and Energy Dispersive Spectrometer

理111

S3400N掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀(S3400-SEM)

Scanning Electron Microscope and Energy Dispersive Spectrometer

理113

S3000N高解晰可變真空掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (S3000N-SEM)

Variable Vacuum Scanning Electron Microscope and Energy Dispersive Spectrometer

理113

高解析比表面積分析儀 (ASAP/BET)

High Resolution Surface Area and Porosimetry Analyser

理113

紅外線光譜儀(PE-FTIR)

Fourier Transform Infrared Spectroscopy

理114

雷射粒徑暨界達電位分析儀 (PSA)

PSA

理111

高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)

Ｍultimode Scanning Probe Microscope

理114

熱機械分析儀(TMA)

Thermal Mechanical Analyzer

理113

調幅式示差掃描分析儀(TA-MDSC)

Modulated Differential Scanning Calorimetry

理114室

熱重分析儀(TA-TGA)

Thermogravimetric Analysis

理113

示差掃描量熱-熱重分析聯用(TA-SDT)

Simultaneous DSC-TGA

理113

感應耦合電漿光譜儀 (ICP-OES)

Inductively Coupled Plasma Optima Optical Emission Spectrometer

理113

微波消化系統 (MW)

Microwave Lab Station

理111

全反射X射線螢光光譜儀(XRF)

Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer

理111

倒立螢光顯微鏡(NIFM)

Inverted Fluorescence Microscopy

資424

雙面光罩對準曝光儀(Aligner)

Double Side Mask Aligner

資424

熱阻式蒸鍍系統 (TE)

Thermal Evaporation Coater

理112

液態氮(LN2)

Liquid Nitrogen

儀器維護中 Instrument maintenance

高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)

Ｍultimode Scanning Probe Microscope

中心介紹

教育訓練

預約系統

活動報名

會員中心

自行操作預約

委測預約

教育訓練報名

最新消息 NEWS

開課清單 course list

儀器設備 instrument

X光光電子能譜儀 (XPS)

多功能微區X光薄膜繞射儀(D8-XRD)

桌上型X光繞射儀(D2-XRD)

冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (FE-SEM)

S3400N掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀(S3400-SEM)

S3000N高解晰可變真空掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (S3000N-SEM)

高解析比表面積分析儀 (ASAP/BET)

紅外線光譜儀(PE-FTIR)

雷射粒徑暨界達電位分析儀 (PSA)

高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)

熱機械分析儀(TMA)

調幅式示差掃描分析儀(TA-MDSC)

熱重分析儀(TA-TGA)

示差掃描量熱-熱重分析聯用(TA-SDT)

感應耦合電漿光譜儀 (ICP-OES)

微波消化系統 (MW)

全反射X射線螢光光譜儀(XRF)

倒立螢光顯微鏡(NIFM)

雙面光罩對準曝光儀(Aligner)

熱阻式蒸鍍系統 (TE)

液態氮(LN2)

儀器維護中 Instrument maintenance

高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)

MEMBER LOGIN會員登入

Forgot PASSWORD忘記密碼

自行操作預約

委測預約

教育訓練報名

最新消息 NEWS

開課清單 course list

儀器設備 instrument

X光光電子能譜儀 (XPS)

多功能微區X光薄膜繞射儀(D8-XRD)

桌上型X光繞射儀(D2-XRD)

冷場發射掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (FE-SEM)

S3400N掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀(S3400-SEM)

S3000N高解晰可變真空掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (S3000N-SEM)

高解析比表面積分析儀 (ASAP/BET)

紅外線光譜儀(PE-FTIR)

雷射粒徑暨界達電位分析儀 (PSA)

高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)

熱機械分析儀(TMA)

調幅式示差掃描分析儀(TA-MDSC)

熱重分析儀(TA-TGA)

示差掃描量熱-熱重分析聯用(TA-SDT)

感應耦合電漿光譜儀 (ICP-OES)

微波消化系統 (MW)

全反射X射線螢光光譜儀(XRF)

倒立螢光顯微鏡(NIFM)

雙面光罩對準曝光儀(Aligner)

熱阻式蒸鍍系統 (TE)

液態氮(LN2)

儀器維護中 Instrument maintenance

高解析多功能掃描式探針顯微鏡 (SPM/AFM)