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多功能微區X光薄膜繞射儀(D8-XRD)

簡稱 MXRD
機台編號 0001
中文名稱 多功能微區X光薄膜繞射儀(D8-XRD)
英文名稱 Multipurpose X-Ray Thin-Film Micro Area Diffractometer
功能說明 可支援應用層面為粉末繞射、高解析薄膜繞射分析、全反射量測、織構分析、殘餘應力測定、低掠角繞射分析及小角度散射等奈微米材料研究分析
儀器服務項目 1.一般廣角繞射分析 2.多晶及薄膜低掠角繞射 3.小角度散射分析 4.殘留應力(Residual stress) 5.極圖組織(Pole figure texture) 6.薄膜全反射分析
儀器購置日期 2018-12-01 00:00:00
儀器購置金額 0
儀器廠牌 Bruker
型號 D8 Discover
儀器規格 靶材:銅靶 輸出電壓:0 ~ 50kV。 輸出電流:0 ~ 2mA。 角度測量範圍 2θ:0.5°~ +168°
主要配件,配件 1.多功能測量附件:可測極圖測試、殘留應力測試、薄膜測試和樣品旋轉。 2.薄膜分析附件。 3.旋轉樣品台:1/4尤拉環安裝在測角儀上可讓樣品自動地實現七個自由度的動作。 4.樣品雷射定位配件。 5.精
儀器放置位置 理113
注意事項 1.欲預約本儀器者,請線上提出委託試驗申請 2.不接受具揮發性與毐性之試樣。 3.塊材試片最小尺寸10mm×10mm,厚度小於30 mm。 粉末樣品量平舖約一元硬幣大,其他樣品型態尺寸及微量粉末量電洽詢問。