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多功能微區X光薄膜繞射儀(D8-XRD)

Multipurpose X-Ray Thin-Film Micro Area Diffractometer

可支援應用層面為粉末繞射、高解析薄膜繞射分析、全反射量測、織構分析、殘餘應力測定、低掠角繞射分析及小角度散射等奈微米材料研究分析 

D8-XRD實務課程投影片

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D8-XRD理論課程投影片

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D8-XRD理論課程影音檔

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