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桌上型X光繞射儀(D2-XRD)

簡稱 D2-XRD
機台編號 PISC025
中文名稱 桌上型X光繞射儀(D2-XRD)
英文名稱 X-ray Diffraction
功能說明 可支援應用層面為粉末繞射、塊材繞射等奈微米材料研究分析。
儀器服務項目 一般廣角繞射分析
儀器購置日期 2015-03-01 00:00:00
儀器購置金額 0
儀器廠牌 Bruker
型號 D2 phaser
儀器規格 靶材:銅靶 輸出電壓:30kV。 輸出電流:10mA。 角度測量範圍 2θ:-3°~ +160° 最小步徑:0.002˚; 掃描速度:0.017 – 1.33˚/sec
主要配件,配件 偵測器:化合物半導體偵測器(LynxEye Compound Silicon Strip Detector)
儀器放置位置 理111
注意事項 1.欲預約本儀器者,請填寫『儀器委託試驗申請表』 2.不接受具揮發性與毐性之試片之粉末試樣。 3. 適用樣品型態:粉末與固體。 4.塊材試片最大尺寸30mm×30mm(不小於10mm×10mm),厚度小於4mm; 粉末樣品量平舖約一元硬幣大,其他樣品型態尺寸及微量粉末量電洽詢問。