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全反射X射線螢光光譜儀(XRF)

簡稱 TXRF
機台編號 PISC030
中文名稱 全反射X射線螢光光譜儀(XRF)
英文名稱 Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer
功能說明 適合本儀器的樣品種類:粉末、液態樣品、懸浮微粒、凝膠等 使用樣品量需視樣品中待測元素濃度而定;最低可測到ng等級 可偵測元素範圍:鋁~鈾元素(Si,Zr,Nb,Mo,Tc除外)
儀器服務項目 1.樣品定量分析。 2.試樣半定量及定性分析。
儀器購置日期 2016-05-01 00:00:00
儀器購置金額 0
儀器廠牌 Bruker
型號 S2-PICOFOX
儀器規格 靶材:Mo靶 偵測極限:50 ppb
主要配件,配件 偵測器:氣冷式之silicon drift detector,不需使用液態氮。
儀器放置位置 理111
注意事項 1.請委託者試驗送測樣品前先自行溶解或消化樣品。 2.委託者請務必將試樣溶液及溶質成分告知,以便作為標準液檢量線配製及數據分析之參考依據。 3.因樣品對需要繁複處理之樣品,收費另計。