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S3000H掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (S3000H-SEM)

簡稱 S3000H
機台編號 031
中文名稱 S3000H掃描式電子顯微鏡及能量散佈光譜儀 (S3000H-SEM)
英文名稱 Scanning Electron Microscope
功能說明 1.二次電子影像觀察。 2.試樣鍍金。
儀器服務項目 二次電子(SE) 影像解析度為3nm
儀器購置日期 1970-01-01 00:00:00
儀器購置金額 0
儀器廠牌 日本HITACHI
型號 S3000H
儀器規格
主要配件,配件
儀器放置位置 理113
注意事項 1.本儀器不接受粉體或高分子樣品進行分析。(請確實遵守此規定,並於實驗前經管理者確認後,方可進行實驗)。 2.本儀器目前僅開放持有執照之使用者上網預約使用。 3.試件取樣直徑最大不超過20mm,最大高度需小於30mm,試片裁取自行處理,並請保持試片乾淨。 4.未曾於本中心室進行實驗之人員,請先電話聯繫,以確定樣品處理方式。 5.本儀器拒絕受理(1)含有毒性、腐蝕性、揮發性及低熔點等之試樣;(2)具磁性試樣。